• 首 页
  • 中心简介
  • 工作动态
  • 仪器动态
  • 规章制度
  • 资料下载
  • 联系我们
  • 通知公告
  • 首页
  • 中心简介
  • 工作动态
  • 仪器动态
  • 规章制度
  • 资料下载
  • 联系我们
  • 通知公告
  1. 首页    仪器动态

01-光学面型检测设备(02-12187)

发布时间:2025-05-01   |  【 大  中  小 】  |  【打印】 【关闭】

 
 

01-光学面型检测设备(02-12187)

型号:DynaFiz

主要功能及性能指标:

(1)光学面型检测设备针对各类光学元件、光学系统(包括望远镜系统)等进行测量研究,从而为各类光学仪器、天文仪器的性能指标提供重要依据。具体可支持各类光学元件、光学系统的波像差测量、辅助光学系统的装调,验证光学系统的成像质量和性能检测等。平台拥有科研实验室总面积为137平米,该平台在专业技术领域处于国内一流水平。

  (2)主要设备面型干涉仪、其他设备:波前检测器、干涉仪、光学合像水平仪、精密定位系统、电子干燥箱、6维精密调整台。

 

主要配件及功能:

(1)光学合像水平仪

(2)电子干燥柜

(3)波前检测器

(4)干涉仪

(5)6维精密调整台

型号:定制

(6)精密定位系统

型号:M-824.3DG

 

放置地点: 

B101

 

预约地址:

http://samp.cas.cn  (仪器设备档案卡)

 

附件下载:

版权所有 © 中国科学院国家天文台 备案序号:京ICP备05002854号
地址:北京市朝阳区大屯路甲20号 中国科学院国家天文台  邮编:100012