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01-探月样品分析系统(02-172740)

发布时间:2025-04-30   |  【 大  中  小 】  |  【打印】 【关闭】

 
 

01-探月样品分析系统(02-172740)

型号:JXA-8230

主要功能及性能指标:

无

 

主要配件及功能:

(1)体视显微镜

型号:M125和M205A

(2)高级固结试验系统

型号:GDSAOS

(3)真密度分析仪

型号:Micro-UltraPYC1200e

(4)比表面积分析仪

型号:Novatouch LX2

(5)电子显微镜

(6)X射线荧光光谱仪

型号:XRF-1800

(7)紫外可见近红外光谱仪

型号:Lambda 950

(8)多功能粒径及粒形分析仪

型号:Scan 700

(9)磁化率仪

型号:MFK1-FA

(10)自准直电子经纬仪

型号:徕卡 TM6100A

(11)经纬仪

型号:TM6100A

(12)能谱仪

型号:X-Max50

(13)波谱仪

型号:WAVE 500

(14)薄片样品制作设备

型号:AbrasimentTM250

(15)线切割机

型号:Model 6234

(16)钻取样截取和剪切工装

型号:非标研制

(17)样品盒

型号:非标研制

(18)矢量网络分析仪

型号:FieldSpec 4

(19)原子力显微镜

型号:Dimension Edge

(20)激光拉曼光谱仪

型号:LabRAM HR Evolution

(21)X射线衍射仪

型号:D8 Advance

(22)阴极发光成像仪

型号:Chroma CL2

(23)显微成像光谱测量仪

型号:主机型号VERTEX80v显微成像型号HYPERIONTM

(24)双向反射率光谱仪

型号:ZNB20

 

放置地点:

B座地下一层电子探针室

 

预约地址:

http://samp.cas.cn (仪器设备档案卡)

 

附件下载:

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